中國科大理化科學實驗中心儀器上新，國產(chǎn)掃描電鏡SEM3100開放試運行
更新時間：2022-03-16 點擊次數(shù)：3559
近日，中國科學技術大學理化科學實驗中心發(fā)布儀器上新公告，掃描電子顯微鏡SEM3100完成調試，各項指標符合要求，投入試運行。該款掃描電鏡由國儀量子自主研發(fā)，各項技術指標*、擴展性強、用戶體驗佳，將為“中心"提供高性能的檢測分析工具，也為國產(chǎn)科學儀器的發(fā)展起到示范作用。國儀量子掃描電鏡SEM3100交付現(xiàn)場試運行期間免費，有測試需求的老師和同學請與機組聯(lián)系。
詳見公眾號國儀量子+
中國科學技術大學理化科學實驗中心是中國科學技術大學公共技術創(chuàng)新平臺實驗中心之一，從1979年開始籌建。中心以“集中投入、統(tǒng)一管理、開放公用、資源共享"為建設原則，以建立條件優(yōu)良、功能配套、管理規(guī)范、先進高效的優(yōu)質資源和共享機制為建設目標，為培養(yǎng)創(chuàng)新人才和開展高水平科學研究工作提供技術支撐，為社會經(jīng)濟建設提供技術保障。作為學校最早建成的大型儀器開放平臺，中心不僅承擔著相關院系、國家研究中心、國家重點實驗室，省部級實驗室以及國家、省部級等各類科研項目的技術支持分析測試任務，同時，也對相關學科提供教學、科研實驗條件與環(huán)境。國儀量子鎢燈絲掃描電子顯微鏡SEM3100是一款高性能的掃描電子顯微鏡，擁有可達3nm分辨率和出色的成像質量。放大倍率連續(xù)可調，在不同的視場范圍下均可得到高亮度的清晰圖像。大景深，成像富有立體感。配備的超大樣品倉和低電壓模式，可容納最大直徑為370 mm的樣品，極大地擴展了SEM3100的應用范圍。掃描電子顯微鏡不只用于表面形貌的觀察，還可以進行樣品表面的微區(qū)成分分析。SEM3100擁有超大的樣品倉，接口豐富，除支持常規(guī)的二次電子探測器（ETD）、背散射電子探測器（BSED）、能譜儀（EDS）外，也預留了諸多接口，諸如電子背散射衍射（EBSD）、波譜儀（WDS）、陰極熒光（CL）等探測器都可以在SEM3100上進行集成。二次電子成像和背散射成像對比。背散射像下，樣品的荷電效應明顯減弱，并且具有很好的成分襯度，適合進行成分觀察。水泥建筑材料SE和EDS分析結果，加速電壓15kV*微量Au元素為噴金后的鍍層。SEM3100具有人性化的軟件設計，純中文的操作界面，功能設計簡單易懂。無論是否有經(jīng)驗的用戶，簡單的了解后都可以快速上手。此外，SEM3100還具有30分鐘自動休眠、換樣方便、燈絲狀態(tài)自動監(jiān)測、優(yōu)中心樣品臺和真空電機、防碰撞和三級減震等人性化設計，全面提升用戶的操作體驗。了解更多SEM3100應用案例，可點擊主頁進行更多閱讀
微信公眾號
訪問手機端
